基于深度学习的电子元件故障自动检测方法探索
吴 满
【摘要】针对传统电子元件故障检测方法效率低、准确率不足的问题,本研究提出了一种融合卷积神经网络(CNN)与循环神经网络(RNN)的深度学习故障自动检测技术。 通过构建标准化数据集、设计多层卷积特征提取模块、建立时序故障模式识别模型,并采用迁移学习策略优化网络参数,实现了对电子元件多类型故障的高精度识别。 实验结果表明:该方法在测试集上的故障检测准确率达到 97.8%,相较传统检测方法提升了 23. 6 个百分点,可有效满足工业生产中电子元件质量控制的实际需求。
【关键字】深度学习;电子元件;故障检测;卷积神经网络;循环神经网络
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