ISSN 1009-5624 CN 10-2021/TQ 主管:中国乐凯集团有限公司 主办:北京乐凯科技有限公司
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【摘要】磁力显微镜（ｍａｇｎｅｔｉｃ ｆｏｒｃｅ ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｙ，ＭＦＭ）是研究磁性材料与器件纳米尺度磁畴结构的有力工具，ＭＦＭ探针性能直接影响到ＭＦＭ的空间分辨率。 本文研究了退火温度对ＦｅＰｔ⁃ＭｇＯ薄膜结构与磁性能的影响，并对ＭＦＭ探针制备条件进行优化。 研究结果表明：随着退火温度升高，ＦｅＰｔ⁃ＭｇＯ薄膜的表面形貌变得粗糙且不连续，薄膜的矫顽力增大，测得的磁畴密度减小，畴壁变得模糊；使用自制的ＭＦＭ探针可以成功测得硬磁薄膜、磁带及硬盘驱动器介质的磁畴结构。
