【摘要】随着集成电路技术的不断发展，在超大规模集成电路时代，数字电路的应用越来越广泛，而其中使用的大规模数芯字片 越来越多，如数字信号处理（ｄｉｇｉｔａｌ ｓｉｇｎａｌ ｐｒｏｃｅｓｓｉｎｇ，ＤＳＰ）、现场可编程门阵列（ ｆｉｅｌｄ ｐｒｏｇｒａｍｍａｂｌｅ ｇａｔｅ ａｒｒａｙ，ＦＰＧＡ）等；然而也带来了 更多的测试问题。 边界扫描测试技术为测试复杂、高密度电路系统提供了新的解决方案，注入了新的活力。 它为数字电路提供了一 套完整的、标准化的可测试性设计方法，有效解决了传统测试方法无法解决的问题，并具有广阔的应用前景。 本文首先对边界扫描测 试技术的发展史、测试原理进行概述，并对比边界扫描测试与传统测试区别；其次对边界扫描测试技术在可测试性设计层面的应用场 景进行概述；最后提出可行性建议。